rollo_tomasi 发表于 2014-2-25 11:32:12

双枪镀膜机均匀板的修整方法快、准、狠

对与带有双电子枪的镀膜机来说,修整高、低折射率材料的膜厚之比很是麻烦。但是我介绍的这种方法,简单实用,一步到位,希望对大家有帮助!
1、镀一个7层的1/2波长厚度的膜系:2H2L2H2L2H2L2H,由于它在监控波长处全为虚设层,故透射率为极大,而其两侧的两个透射极小值峰对高、低折射率误差极为敏感。
2、若低折射率层偏薄,则短波侧的透射率降低而长波侧的透射峰升高,反之亦然。
3、由此不仅可以了解膜厚均匀性,而且可知高低折射率膜的厚度比是否正确。

苏州膜头 发表于 2014-2-25 20:38:50

楼主:弱弱的问下,高低折射率材料的膜厚是同时修正的吗?和膜厚均匀性有关系吗?请说详细点。

wdydede 发表于 2014-2-25 22:29:13

谢谢楼主的分享,这是好主意!刚用2.2,1.45,模拟了一下,的确比较灵敏,当两者之比为1:1.01,则两个次峰变化达2%,一个上升1%,一个下降1%。

rollo_tomasi 发表于 2014-2-26 08:30:53

如果对整个镀膜伞修整均匀性的话,主要是修正径向内外圈的厚度差异,还是需要靠一次一次逐步微调。
我这个更主要的是侧重于在使用晶控监控时高、低折射率膜层的比例修正。这个方法比用光度计测量一个SWP膜系不同入射角度的次峰大小来判断两者比例的方法要简单许多!

lkai1014 发表于 2014-2-26 10:21:45

可以先分别修正高和低折射率材料的修正板,然后在用HLHLH2LHLHLH做一个BPF来同时修正H和L的修正板

rollo_tomasi 发表于 2014-2-26 10:46:12

对楼上的说话,我说一点不同意见:如果你的分光光度计可以测量剩余反射率的话,我可以镀一个双层λ/4-λ/4的单点式AR,它的剩余反射率曲线就是一个V型,不是也能很好的看出均匀性的差异嘛!比镀一个11层的窄带通要省时好多!

rollo_tomasi 发表于 2014-2-26 12:53:44

明白 lkai1014 的意思,就好比增透膜和滤光膜,两者在均匀性上还是有差异的,厚层和薄层也是有差异的!

lkai1014 发表于 2014-2-26 13:42:16

{:6_143:}

coaterxf 发表于 2014-2-27 14:06:36

五指山法怎么用呢?

qxb2008 发表于 2014-2-27 20:03:29

本帖最后由 qxb2008 于 2014-2-28 08:32 编辑

lkai1014 发表于 2014-2-26 10:21 static/image/common/back.gif
可以先分别修正高和低折射率材料的修正板,然后在用HLHLH2LHLHLH做一个BPF来同时修正H和L的修正板

修正板还分为高低折射率两种修正啊,那怎么能够同时兼顾两者呢?

qxb2008 发表于 2014-2-27 20:12:55

本帖最后由 qxb2008 于 2014-2-27 20:16 编辑

请教一下:BPF如何判定是高折射率还是低折射率的问题,是偏多还是偏少。

lkai1014 发表于 2014-2-28 00:28:08

qxb2008 发表于 2014-2-27 20:12 static/image/common/back.gif
请教一下:BPF如何判定是高折射率还是低折射率的问题,是偏多还是偏少。

通过比对HL各组系数的变化来进行修正
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