关于何为直接光控和间接光控
如题 求解答 谢了 {:6_143:}学习,没用过光控 直接监控是直接测试被镀件表面的光信号变化(leybold设备采用),而间接监控是监控同炉次的一个监控片表面镀膜过程的光信号变化(目前大部分机器采用) 谢谢解释。我现在用的就是间接监控。按我测量的结果,监控片上的参数,不能直接作为设计依据。那么,tooling值我能直接用样片和设计值进行计算吗?设计值与监控片的膜有差异,而监控片的膜与样片的又有差异。应该如何计算呢? Jimmy_tang 发表于 2011-12-19 11:03 static/image/common/back.gif
谢谢解释。我现在用的就是间接监控。按我测量的结果,监控片上的参数,不能直接作为设计依据。那么,toolin ...
恩,我也有这样的疑问。不知你现在解决没有,我还是搞不明白 缘睐汝痴 发表于 2011-12-19 21:25 static/image/common/back.gif
恩,我也有这样的疑问。不知你现在解决没有,我还是搞不明白
自然是没有的。我现在是在磕磕绊绊地摸石头过河啊。 Jimmy_tang 发表于 2011-12-20 09:17 static/image/common/back.gif
自然是没有的。我现在是在磕磕绊绊地摸石头过河啊。
大家多交流啊朋友的机器是 那里的啊 我也来学习学习 国产机子啦,公司在昆山。
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