2004-10-15 05:07:00 | 显示全部楼层 | 阅读模式

我该怎样测量膜厚?

1. 用光学干涉仪测量需要镀膜前做一个台阶,而这样的话,破坏了膜,以后将无法测量红外透过率。

2. 采用透过率曲线中的波峰波谷计算。这里我遇到一个问题。我镀的是AlN 膜,在3350波数处总有一个波谷(我猜测这个波谷是AlN膜的特征吸收峰),因为各个工艺参数不同,波峰位置可能不太一样,请问是不是可以籍这相邻的波谷波峰来计算各个参数下的膜厚度呢?吸收峰可以用来作为膜厚测量的依据么?根据那个计算膜厚的swane method公式,厚度不同那么波峰波谷应该是处于不同的波数处的。谁来教我?

3.谁有更好的测量膜厚的方法?

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2004-10-17 19:09:00

没人理我?

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2004-10-18 23:58:00
如果是厚膜,比方在微米级,可以考虑 棱镜耦合仪的方法
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2004-10-19 05:07:00
一个棱镜耦合仪得多少钱?破坏不破坏膜层?
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