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关于粗糙度的问题

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发表于 2004-6-8 00:53:00 | 显示全部楼层 |阅读模式

不好意思,问一下各位

请问粗糙度为 0.3nm RA 是指什么样的光学表面加工标准

发表于 2004-6-13 04:57:00 | 显示全部楼层

那请教一下,国内有高精度抛光吗,我记的是 0.5 Ra

发表于 2004-6-9 01:35:00 | 显示全部楼层

表面粗糙度

表面粗糙度是指加工表面上的微观几何形状误差,对于我们光学元件来说,就是经过抛光后,光学表面微观的几何形状,

这个指标,我以前主要是用接触式粗糙度仪来测量的.

表面粗糙度可用Ra(轮廓的平均算术偏差)和Rz(不平度平均高度)两者之一来评定,但前者好象更通用一点,另外从概率上来讲,也更为精确与客观一点.

不妥不当之外,请相关人士指点!

发表于 2004-6-9 17:51:00 | 显示全部楼层
一般常用RMS(root means square) 均方根值来表示。
发表于 2004-6-13 18:05:00 | 显示全部楼层

LN晶体还可以!

发表于 2004-6-14 02:47:00 | 显示全部楼层

表面粗糙度,在高精度光学元件和电子元件(硅片)主要用Rq值来表示。

发表于 2004-6-14 02:49:00 | 显示全部楼层
有知道国内有多少能达到这个表面粗糙度水平的?
 楼主| 发表于 2004-6-15 04:44:00 | 显示全部楼层

这个指标,我以前主要是用接触式粗糙度仪来测量的,请问2楼的先生,你一般测量的范围在多少呢,是微米级还是纳米级?

另请问底楼,是否0.3nm很不容易达到?

发表于 2004-6-16 17:22:00 | 显示全部楼层
用WYKO轮廓仪(非接触式)可以测到0.3nm
发表于 2004-6-17 18:36:00 | 显示全部楼层
AFM可以测量,极度可达到0.08A.
发表于 2004-7-3 00:47:00 | 显示全部楼层

一般常用RMS(root means square) 均方根值来表示。
rms 与Rq是什么关系呢?

好像接触式的form talysurf轮廓仪可以达到0.8nm.

发表于 2004-7-3 01:14:00 | 显示全部楼层
rms和 Rq好像是一个概念(3D)
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