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石英晶体在真空镀膜测厚技术中的应用研究-PDF文件,用acrobe打开

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2004-5-8 07:03:00
d多谢!
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2004-5-8 18:05:00
nnn
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2004-5-17 22:32:00
是啊 唉 ,发帖少,看不了
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2004-5-17 16:23:00
唉 ,发帖少,看不了
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头像被屏蔽
2004-5-18 05:28:00
提示: 作者被禁止或删除 内容自动屏蔽
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2004-5-18 16:17:00
这是我第一次帖文章,如果你注意我后面的帖文,就会发现我已经改正错误拉,还是谢谢指正
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2004-5-18 17:10:00
太少了
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2004-5-20 01:46:00
谢谢
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2004-5-25 06:51:00
谢谢,
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2004-5-25 16:11:00

看过的了

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2004-5-25 20:43:00

摘要:基于石英晶体振荡原理,提出了在真空状态下的一种超薄型镀膜测厚方法,介绍了该项测厚技术的基本电 气原理,研究了测厚过程中石英晶体材料的选取方法和组织实施原则*石英晶体应具有固定的技术参数,并被安放 于真空舱内的正确位置*密闭的石英晶体探头通过同轴电缆与外部振荡器相连,振荡器输出的频率信号由微机进 行处理,将频率信号转化为厚度值。

照顾一下新来的兄弟姐妹,我将摘要拷贝出来,楼主不会有意见吧。

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