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发表于 2003-11-2 22:36:00
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[讨论]我的研究生活[课题进行时]
按土豆的粗略理解是:
要测量孔深就要用某种方法得到与孔深相对应的条纹个数(与波长个数相关),
条纹个数和形状(条纹光强度按正弦分布)可以用CCD精确和计数,
但是为了精确测量,就要考虑“小数条纹”,比如100.5个条纹,
前面100个整数条纹(大数)容易通过脉冲或方波硬件计数,
这0.5个条纹就难一点了,
要通过计算正弦曲线上该点切线夹角的正切值来确定
(或者直接用正切值确定?),
比如0.5个条纹对应的切线夹角正切值显然是0,
这就要求测得的正弦曲线应尽量符合标准的正弦曲线,
可实际上CCD光电转换过来的测量值往往是不标准的,
表现为那个图中的不规则、变形很大的圆,
这又要对原始测量值用最小二乘法做曲线拟合修正,
具体就是要求出修正系数,以后的实测值都用这系数来修正,
经过曲线拟合修正后的曲线就很接近标准的正弦曲线了,
表现为图中与圆形很接近的红线圆,
我说的差不多吧?还请鲁班斧正,
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