与宏观机械结构一样,MEMS动态测试包括振动激励、振动测量和模态分析等三个基本环节。通过某种激励力作用在被测MEMS器件上,使其产生振动响应,通过测量激励和响应,进而确定MEMS器件的固有频率等模态参数,从而建立或验证MEMS器件的理论模型,并通过结合有限元方法和CAD技术,最终指导MEMS器件的结构优化设计。尽管扫描隧道显微镜(STM,scanning tunneling microscope)和原子力显微镜(AFM,atomic force microscope)的发明解决了原子级尺度的测量问题,但由于这些测量只能在静态环境下进行,因而只能获取MEMS和其它微结构的静态几何尺寸和表面形貌等参数,而无法胜任MEMS在高频高速运动下的动力学特性测试。
利用频闪微视觉系统和频闪干涉视觉系统进行MEMS和其它微结构的动力学测试只是最近几年才开始见诸报道,目前国外也只有极少数著名大学的科研小组构建了这样的实验原型系统。其中,麻省理工学院MEMS研究中心Freeman教授等人在国防先进项目局DARPA的资助下,最早开展了基于频闪微视觉系统的MEMS动态特性测试研究,他们研制的测量系统采用多焦平面成像和景深处理等技术,因而不仅可以测量面内运动,而且可以测量平面垂向运动,测量精度分别达2.5nm和10nm,最高测量频率达100kHz以上,面内空间分辨率为500nm,面内运动最大位移大于5μm,面内运动速度范围为0-20m/s。加州大学Berkeley分校传感器与执行器中心(BSAC,Berkeley Sensor and Actuator Center)在美国DARPA和国家自然科学基金NSF等项目资助下,研制了当前最先进的频闪干涉视觉系统,并用该系统进行了大量MEMS动力学方面的研究。在R.S.Muller教授的领导下,BSAC早期研制的频闪干涉视觉系统只能进行表面形貌和平面垂向运动测量,最近改进的系统则集频闪干涉测量与频闪视觉测量为一体,可同时实现平面垂向运动和面内运动测量,测量精度分别达1nm和5nm,最高测量频率达1MHz,面内空间分辨率为500nm,平面垂向运动最大位移为15μm,面内运动最大位移为500μm,平面垂向运动速度范围为0-3.3m/s,面内运动速度范围为0-20m/s。法国巴黎十一大学基础电子学研究所(IEF,Institut d'Electronique Fondamentale)的A.Bosseboeuf教授等人在法国国家科学研究中心(CNRS,Centre National de la Recherche Scientifique)资助下,也成功研制了用于MEMS动力学测试的频闪干涉显微镜,最高测量频率达800kHz以上,平面垂向运动测量精度为3-5nm。