|
|
USPM-RⅢ 反射率测定仪
消除背面反射光
采用特殊光学系,消除背面反射光。不必进行背面的防反射处理,可正确测定表面的反射率。
可测定微小领域的反射率
用对物镜对焦于被测面的微小区域(φ60μm),可测定镜片曲面及镀膜层脱落。
测定时间短
使用Flat Field Grating(平面光栅)和线传感器的高速分光测定,可迅速实现再现性很高的测定。
XY色度图、L*a*b*测定可能
以分光测定法为基准,从分光反射率情况可测定物体颜色。
Hard Coat(高强度镀膜)膜厚测定可能
用干涉光分光法,可以不接触、不破坏地测定被测物的膜厚(单层膜)。
主要用途
· 各种透镜(眼镜透镜、光读取头镜片等)
· 反射镜、棱镜以及其他镀膜部品等的分光反射率、膜厚测定(单层膜) |
|