battle 发表于 2004-11-12 00:42:00

平整度检测设备TROPEL9000有人要吗?

<P>这台机器采用干涉原理,只要能反射就能测.</P>
<P>具体资料如下,有用得着的请与我联系:</P>
<P>Fringe sensitivity range: continuously variable from 0.5 to 10 micrometers/fringe
System accuracy: 0.25 micrometers
Maximum test area: 5.0" x 4.5" (major x minor axes)
Maximum resolution: 0.10 micrometers
Work holder: tilt adjustable in 2 dimensions; accomodates 4 x 4", 5 x 5" photoplates
as well as 2", 3", 100mm, and 200mm wafers and slices.
Viewing screen: RCA bw CCTV monitor with 9" CRT
Light source: HeNe laser
Power input: 67 watts </P>
[此贴子已经被作者于2004-11-18 15:49:10编辑过]

xueyan 发表于 2004-11-15 22:56:00

<P>价钱多少？</P>

xueyan 发表于 2004-11-15 22:58:00

还有，最小只能测到0.5微米吗？

jackonlee 发表于 2004-11-16 04:18:00

双面抛光能检测吗？

求是者 发表于 2004-11-16 16:30:00

<P>请问可以测其他晶体么</P><P>测硅片时是单面测量么？</P><P>如何夹持，是真空么?</P><P>是自动的还是手动的?</P><P>能测绘出测量区域的形貌图么？</P><P>我对这类设备倍感兴趣，所里面正在选购，不知道怎么和你联系啊?</P><P>我：zhigang11@sina.com。方便联系我啊</P>

battle 发表于 2004-11-16 18:22:00

<P>single side measurement for flatness,
vacuum to hold the wafer,
it can display the wafer contour</P>
<P>还有，最小只能测到0.5微米吗？
max resolution: .1um</P>
<P>双面抛光能检测吗？yes
是自动的还是手动的? manual</P>
<P>直拉的硅片也能测</P>
[此贴子已经被作者于2004-11-18 9:01:26编辑过]
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