量测HR高反膜时,量测角度倾斜对测量结果有什么影响?
量测HR高反膜时,量测角度倾斜对测量结果有什么影响?反射波长向长波方向偏移了么? 请大侠给予确定的答案 当然会,不过会往短波偏移至于偏移量跟角度的关系,要看是什么波段,波段越长,相对偏移量就更大
楼主自己用TFC试一下,就明白 {:6_143:} 但个人认为,镀膜的时候监控波长倾斜会使监控判断失准,膜偏薄而滤波特性偏短波。镀好膜后,进行滤波测试性能,此时倾斜应该会照成光程差变长,滤波特性往长波方向偏移吧。 凉晴天 发表于 2011-11-16 23:45 static/image/common/back.gif
但个人认为,镀膜的时候监控波长倾斜会使监控判断失准,膜偏薄而滤波特性偏短波。镀好膜后,进行滤波测试性 ...
反了。 反了 我用TFC的交换分析功能,在厚度不变而角度增大的时候,所测量到的曲线会往长波方向移动。我觉得LZ没错啊?{:6_147:} Jimmy_tang 发表于 2011-11-17 16:25 static/image/common/back.gif
我用TFC的交换分析功能,在厚度不变而角度增大的时候,所测量到的曲线会往长波方向移动。我觉得LZ没错啊?{ ...
你用个带通膜系再试试, 看倾斜后中心波长到底怎么移动。 otxtc 发表于 2011-11-17 19:58 static/image/common/back.gif
你用个带通膜系再试试, 看倾斜后中心波长到底怎么移动。
{:6_153:} 抱歉,是我错了。。。横坐标不小心弄成波数了。。。换成波长后,入射角增加,反射波长段确实是向短波方向移动。
我用的是H(LH)^9的膜系,H为TiO2,L为SiO2。 {:6_143:} {:6_143:}{:6_143:}{:6_143:}