光电社区 › 光电材料纳米材料新材料 › 波前畸变？

mincailiu 发表于 2004-9-1 22:26:00

透射波前畸变与平行度无关

刘建 发表于 2004-9-7 21:05:00

面形质量和材料质量影响波前畸变

联合晶体 发表于 2005-4-27 01:00:00

怎么去解决这个问题呢？

jackonlee 发表于 2005-4-25 19:39:00

楼上高手认为波前畸变是一个综合指标
那和光学均匀性无法区别了？？？？？？？

南山采樵翁 发表于 2005-4-25 21:03:00

关于波前畸变

首先应该知道：波前是指“光波振动相位相同的点所构成的面”，也叫波面。通常波前畸变是通过干涉仪来测量的，其原理是光程差的变化。透射波前畸变反映了材料的光学均匀性，因此很多激光材料都需要对此参数进行度量。

xueyan 发表于 2005-4-26 22:19:00

问各位高手一个菜问题，波前畸变如何测量？

南山采樵翁 发表于 2005-4-26 23:16:00

回复17楼：双程型干涉仪可以测材料的透过波前畸变。

jackonlee 发表于 2005-4-27 03:59:00

18楼你好
怎么没有听说过双程型干涉仪
能否介绍一下或说明那种仪器可测？？？？？？

南山采樵翁 发表于 2005-5-8 23:48:00

回复20楼：你好！
干涉仪是利用光的干涉原理测定光程差或其它光参量的仪器，双程型干涉仪两相干光束中的测试光束通过被测样品后，由测试反射镜反射，再次通过被测样品，因此测试光束是两次通过被测样品。泰曼-格林型干涉仪就是一种双程型干涉仪。

xyqy 发表于 2005-5-9 16:25:00

不用搞得这么复杂，一般菲索干涉仪加一个标准平板就可以测量了。

南山采樵翁 发表于 2005-5-10 19:41:00

jackonlee：最主要的是你测波前畸变的目的是什么呢？因为20楼的方法是度量加工的平面度，泰曼干涉仪测量波前畸变是为了度量材料的光学均匀性。目的不同当然方法有异。

jackonlee 发表于 2005-5-11 06:49:00

楼上，您越说我越糊涂
按您的说法波前畸变和光学均匀性没有区别了，只是度量的方法不同而已
您能具体的说一下这两个的差别吗？
谢谢！

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