www_awei 发表于 2011-8-9 16:37:19

PLC对光后测试发现很多IL参数都只是比规格大0.1到0.4dB,一般是什么原因引起的？

最近我们所生产的PLC器件，对光后测试发现，有好些IL值只是比SPEC大0.1---0.4dB;通红光分析这些不合格品，一般也看不出具体失效原因。我们对光只是监测FA最外面两根线，

以1X16来说，我们的规格是IL<13.6dB;但好些测试结果为13.6到14.0之间，不合格的95%都集中在这个范围。是什么原因？有哪些原因？FA CHIP没清洗好？UV没固化好？我们下架度监控，最外纤IL没变化的。但测试就不合格了，偏大一点点。
请高手分析一下！

liluplanet 发表于 2011-8-9 21:21:36

zuoxueting 发表于 2011-8-10 08:24:06

是不是FA的光纤间距有问题啊！

phwangshadow 发表于 2011-9-5 10:33:14

光源是不是有问题？自身功率就有偏差了。一般测试都要考虑到设备误差的{:6_153:}

50502 发表于 2012-1-3 20:36:45

1.生产工艺问题，需要请有经验的工程师
2.芯片问题，你们用的是什么芯片

husmile 发表于 2012-1-30 23:18:45

如果耦合时，监测IL没问题的话；多半是胶的问题。
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