请教关于检测的问题

刘建 · 发表于 2004-5-14 00:18:00

赞同12楼所言，干涉仪可以测粗糙度，不可测光洁度。至于面形球面样板、平面样板、干涉仪都可测。光洁度用放大镜或显微镜看，有标准的光洁度比较样块来比较判别。

zeoch · 发表于 2004-5-21 01:41:00

谢谢楼上各位！

对于球面和平面用干涉仪好像可以检测，但是对于非球面不行吧？

我们这儿有用轮廓仪检测非球面的，但系统误差有点儿大，不知道哪位能否指教？

zeoch · 发表于 2004-7-10 21:55:00

大家对轮廓仪都没兴趣吗？

jackonlee · 发表于 2004-7-10 22:24:00

有兴趣！

可是没有仪器，还是0不懂

fengxg1974 · 发表于 2004-8-4 00:44:00

非球面也可用干涉仪来测。

ds1234567 · 发表于 2004-8-15 01:40:00

"光洁度一般采用放大镜用眼观察" 这里所说的光洁度是指光学零件表面疵病吗?如果是,那末,用干涉仪扫描之后,在屏蔽面板选项上,仅圈选上疵病附近,然后测量,分析 pv 波峰波谷深度是多少个波长.分析疵病占多少个像素;粗糙度是粗磨,精磨的等级的毛面由于不能产生所以不行.若粗糙度达到亚光的以上,还行.超光滑也不行,像素少分辨不了那么细微.

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